Анализ структуры поверхности полиимидных композиционных пленок с SiO наполнителем методом атомно-силовой микроскопии

  • Abyl Muradov Казахский национальный университет им. аль-Фараби
  • Anatoliy Kupchishin Казахский Национальный педагогический университет им. Абая, г. Алматы
DOI: https://doi.org/10.15328/chemb_2013_390-94
Ключевые слова: полиимидные композитные пленки, SiO наполнитель, атомно-силовая микроскопия

Аннотация

Методом атомной силовой микроскопии исследована морфология поверхности полиимидной пленки и системы «Полиимид – SiO наполнитель». На поверхности композита визуализированы неровности различного масштаба, представляющие собой глобулы полимера и их композиций с частицами наполнителя. Выявлены изменения поверхности полимерного композитного материала в результате введения в матрицу наполнителя мелкодисперсного SiO. Полученные в режиме фазового контраста изображения позволили заключить, что на поверхности композитного материала присутствуют более крупные структурные единицы,  чем в полиимиде.

Биография автора

Anatoliy Kupchishin, Казахский Национальный педагогический университет им. Абая, г. Алматы
Научно-исследовательский институт новых химических технологии и материалов

Литература

1. Petukhov V.Yu, Ibragimova M.I., Khabibullina N.R., Shulyndin S.V., Osin Yu. N., Zheglov E.P., Vakhonina N.A., Khaibullin I.B. Influence of structure of a polymeric matrix on ion-beam synthesis of thin metalpolymeric films [Vliyanie struktury polimernoi matritsy na ionno-luchevoi sintez tonkikh metallopolimernyh plenok]. Vysokomolekulyarnye soedineniya – Polymer Science, Ser. А., 2001, no. 11. P. 1973-1983.

2. Vladimir N. Popok. Ion Implantation of Polymers: Formation of Nanoparticulate Materials. Rev. Adv. Mater. Sci., 2012, 30. Pp. 1-26.

3. Laius L.A., Dergacheva E.N., and Zhukova T.J. Polyimides, chemistry and characterization, edited by. C. Feger, M. M. Khojasteh, and J. E. McGrath. – Amsterdam: Elsevier, 1989. 389 р.

4. Kryzhanovskiy V.K., Burlov V.V., Panimatchenko A.D., Kryzhanovskaya Yu.V. Technical properties of polymeric materials. [Tekhnicheskie svoistva polimernykh materialov]. Saint-Petersburg: Professiya, 2005. 248 p.

5. Lehmani A., Durand-Vidal S., Turg P. Surface Morphology of Nafion 117 Membrane by Tapping Mode Atomic Force Microscope J. Appl. Polym. Sci. 1998, 68. P. 503-508.

6. ZaichenkoN.A., VasilevaV.I., GrigochukO.V. idr. Analysis of a roughness of a surface of ion-exchange membranes by method of nuclear and power microscopy [Analiz sherokhovatosti poverkhnosti iono-obmennykh membrane metodom atomno-silovoi mikroskopii]. Vestnik Voronezhskogo Gosudarstvennogo universiteta – Bulletin of the Proceedings of Voronezh State University. Ser.: Chemistry. Biology. Pharmacy., 2009, no. 1. P. 5-14.

Опубликован
2013-09-14
Как цитировать
Muradov, A., & Kupchishin, A. (2013). Анализ структуры поверхности полиимидных композиционных пленок с SiO наполнителем методом атомно-силовой микроскопии. Вестник КазНУ. Серия химическая, 71(3), 90-94. https://doi.org/https://doi.org/10.15328/chemb_2013_390-94
Выпуск
Том 71 № 3 (2013): Вестник КазНУ. Серия химическая
Раздел
Органическая химия и химия полимеров
Лицензия Creative Commons

Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution-NonCommercial-NoDerivatives» («Атрибуция — Некоммерческое использование — Без производных произведений») 4.0 Всемирная.

Авторы сохраняют за собой авторские права на работу и передают журналу право первой публикации вместе с работой, одновременно лицензируя ее на условиях Creative Commons Attribution License (CC BY-NC-ND 4.0), которая позволяет другим распространять данную работу с обязательным указанием авторства данной работы и ссылкой на оригинальную публикацию в этом журнале.